W pomiarach elektrochemicznych istnieje wiele zależności, które warto przedstawiać na osobnych wykresach. Jedną z takich zależności jest wysokość piku zależna od szybkości skanowania.
1. W celu zademonstrowania sposobu utworzenia takiego wykresu posłużymy się danymi z pliku Fe (II) - Fe (III) on pcPt. Plik znajduje się w folderze Demo database. Sposób dodania tego folderu do biblioteki można znaleźć
tutaj. W procedurze jest wykorzystana komenda Repeat, która jest opisana
tutaj, oraz analiza piku przedstawiona
tutaj.
2. W pomiarze wykonano 4 powtórzenia z różnymi prędkościami. Aby wybrać te prędkości i stworzyć z nich tabelę danych należy dodać komendę Build signal.
3. Aby wyszukać np. wysokość piku również należy dodać komendę Build signal. Po dodaniu wybieramy na pierwszy Build signal. Możemy zmienić mu nazwę, dla rozróżnienia, następnie klikamy [More].
4. W nowo otwartym oknie wyświetlone zostaną wszystkie wartości z jakich możemy stworzyć nowy sygnał. W górnej części są filtry, które ułatwią znalezienie Scan rate. Wybieramy tu najpierw Filter type Command type, a następnie z Command type LSV staircase
5. W ten sposób tabela zostanie ograniczona do sygnałów znajdujących się w LSV. Możemy zaznaczyć Scan Rate.
6. Wracamy do procedury. Wybieramy drugi Build signal i postępując analogicznie jak w punktach 3-5 podajemy nazwę "Wysokość piku" a w Command Type "Peak search". W uzyskanej w ten sposób tabeli wybieramy Peak high.
7. Po powrocie do procedury, jeżeli nie zaznaczymy żadnej komendy możemy zauważyć, że obok nazwy procedury pojawiła się ikona sygnalizująca istnienie danych zebranych przez obie komendy Build signal.
8. Wybieramy [More] i przechodzimy na zakładkę Plots. Dodajemy nowy wykres tak jak podano w poradzie
Jak dodać nowy wykres...?
9. W ten sposób otrzymano nowy wykres zależności wysokości piku od szybkości skanowania.
